產品詳情
簡單介紹：
XJ4810型半導體管特性圖示儀采用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并測量其靜態(tài)參數。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電極掃描電路，可以對被測半導體器件的特司長進行對比分析，便于對管或配件配對。本儀器IR測量達200nA/div，配備擴展裝置后，VC可達3KV；可測試CMOS及TTL門電路傳輸特性；可對場效應管進行配對或對管測試；可測試三端穩(wěn)壓管特性。
詳情介紹：
| XJ4810型半導體管特性圖示儀 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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